Keysight Technologies Inc. aus Santa Rosa, Kalifornien, USA, und WIN Semiconductors Corp. aus Taoyuan City, Taiwan – ein spezialisierter Anbieter von Galliumarsenid- (GaAs) und Galliumnitrid- (GaN) Wafer-Foundry-Dienstleistungen für die Märkte drahtlose Kommunikation, Infrastruktur und Netzwerktechnik – haben einen gemeinsamen Design-Workflow für monolithische Mikrowellen-integrierte Schaltungen (MMICs) vorgestellt. Dieser ermöglicht es GaN-MMIC-Designunternehmen, bereits im ersten Anlauf ein erfolgreiches Tapeout zu erzielen. Der Workflow integriert On-Chip-Multi-Domain-Simulation, 3D-Layout mit Verifizierung und das Design von Off-Chip-MMIC-Evaluierungsboards in eine einzige Umgebung. Er unterstützt die wachsende Zahl von Unternehmen, die GaN-MMICs für 5G-Basisstationen, WLAN-Zugangspunkte, Satellitennutzlasten und Verteidigungsradarsysteme entwickeln.
Ein fehlgeschlagener Tapeout kann wochenlange Verzögerungen durch einen erneuten Foundry-Versuch bedeuten. Der neue Workflow automatisiert alle Simulations-, Optimierungs- und Verifizierungsschritte, die für die Freigabe eines MMIC-Designs erforderlich sind, und stellt so sicher, dass keine Analyse ausgelassen wird, bevor das Design zur Fertigung an die Foundry übermittelt wird.
MMIC-Kunden werden sich erst dann zum Kauf verpflichten, wenn sie die Leistung auf einem physischen Evaluierungsboard messen können, das den MMIC, das Gehäuse, die Leiterplatte und Testanschlüsse umfasst. Der Workflow ermöglicht es Ingenieuren, diese On-Chip- und Off-Chip-Komponenten gemeinsam zu entwickeln und zu optimieren, sodass die Leistung den Spezifikationen entspricht, wie mit Testgeräten verifiziert. Der globale Markt für GaN-HF-Bauelemente wird voraussichtlich ein Wachstum von … erreichen.2,77 Milliarden US-Dollar bis 2031MMIC-Planungsbüros, die ihre Leistungsfähigkeit gegenüber dem Bewertungsgremium nicht nachweisen können, riskieren, ihren Anteil an diesem Wachstum zu verlieren.
Das neueste NP 120P GaN-Prozessdesign-Kit von WIN bietet MMIC-Designern Zugriff auf Prozessmodelle und Layoutregeln. Diese Modelle automatisieren in Keysight Advanced Design System (ADS) und RF Circuit Simulation Professional den Workflow für eine erfolgreiche MMIC-Tapeout-Fertigung im ersten Durchgang.
„Wir freuen uns sehr über die Zusammenarbeit mit Keysight und die Bereitstellung einer maßgeschneiderten LVS-Lösung innerhalb des WIN ADS PDK“, sagt Richard Kuo, Director of Design Service bei WIN. „Durch die Kombination von Keysights ADS-Expertise mit WINs robustem PDK und fortschrittlicher Prozesstechnologie konnten wir eine umfassende Verifizierungslösung anbieten, die den Designprozess des Kunden optimiert und die Markteinführungszeit für fortschrittliche HF-Produkte bei gleichzeitig höherer Zuverlässigkeit und größerer Sicherheit verkürzt“, fügt er hinzu.
„WINs komplettes PDK bietet Entwicklern in Kombination mit den Simulations- und Verifizierungstools von Keysight einen durchgängigen Weg vom Chipdesign bis zum Evaluierungsboard“, so Nilesh Kamdar, General Manager EDA, Design Engineering Software bei Keysight. „Designhäuser können nun die vollständige Systemleistung vor der Fertigung nachweisen und ihren Kunden so die nötige Sicherheit für eine erfolgreiche Auftragserteilung geben.“
Veröffentlichungsdatum: 13. Juli 2026
